0001すらいむ ★
2021/08/14(土) 14:01:14.67ID:CAP_USER理化学研究所の山田純平基礎科学特別研究員らと名古屋大学、大阪大学の共同研究グループは、走査型X線顕微鏡用の新しい高精度スキャン技術「X線ナノプローブスキャナー」を開発した。
試料を動かさずにスキャンでき、スキャン精度は原子数個分に相当する1ナノメートル(ナノは10億分の1)程度と従来手法の10―20倍を実現した。
ナノ分解能のX線顕微鏡観察や、X線分光分析の高度化への寄与が期待される。
(以下略、続きはソースでご確認下さい)
ニュースイッチ 2021年08月13日
https://newswitch.jp/p/28344